产品中心/ products

您的位置:首页  -  产品中心  -  实验室常用设备  -  实验天平  -  METTLER梅特勒分析天平XS204DR

METTLER梅特勒分析天平XS204DR

  • 产品型号:
  • 更新时间:2024-07-15

简要描述:参数名称参数值量程双量程1/2称量1)四角

产品详情

参数名称    参数值

量程    双量程1/2称量1)   四角.3mg
可读性    0.1mg灵敏度温度漂移2)   0.00015%/℃
称量值    220g灵敏度稳定性3)   0.0002%/a
称量值重复性(s)    0.1mg典型称量时间4)   4s
10g重复性(s)    0.07 mg灵敏度漂移    0.0004%
线性    ±0.2mg接口更新速率    23/s
秤盘尺寸(mm)    78×731)按照OIML76标准
2)温度范围10 …30℃
3)灵敏度漂洗/年(天平使用后),激活FACT全自动校准技术 
4)包括样品处理时间设置
防风罩有效高度(mm)  

  235

天平外形尺寸(W×D×H)(mm)  

  263×453×322


在线咨询

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
公司简介  >  在线留言  >  联系我们  >  
产品中心
实验室常用设备

CONTACT

办公地址:郑州市二七区航海中路106号院7号楼18层1819号

TEL:0371-60999551

EMAIL:weichuangjiance@126.com
扫码加微信
版权所有©2024 郑州伟创检测设备有限公司 All Rights Reserved   备案号:豫ICP备13004288号-2   sitemap.xml技术支持:化工仪器网   管理登陆

TEL:13333855670

扫码加微信