产品中心/ products

您的位置:首页  -  产品中心  -  实验室常用设备  -  实验天平  -  METTLER梅特勒分析天平XP205DR

METTLER梅特勒分析天平XP205DR

  • 产品型号:
  • 更新时间:2024-07-15

简要描述:参数名称参数值称量值220g精细量程的称量值81g可读性0

产品详情

参数名称    参数值
称量值  

  220 g

精细量程的称量值  

  81g

可读性  

  0.1mg

精细量程的可读性  

  0.01mg

重复性    正常加载(sd) 0.06mg(200g)
重复性    微量加载 0.05mg(10g)
重复性    精细量程微量加载 0.015mg(10g)
线性    0.15mg
四角误差     0.2mg(100g)
灵敏度漂移(10-30°C) 

  1x10-6/°C

接口更新速率  

  23/s

天平外型尺寸(W×D×H mm)  

  263×486.5×322

秤盘尺寸(W×D mm)    76×73

在线咨询

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
公司简介  >  在线留言  >  联系我们  >  
产品中心
实验室常用设备

CONTACT

办公地址:郑州市二七区航海中路106号院7号楼18层1819号

TEL:0371-60999551

EMAIL:weichuangjiance@126.com
扫码加微信
版权所有©2024 郑州伟创检测设备有限公司 All Rights Reserved   备案号:豫ICP备13004288号-2   sitemap.xml技术支持:化工仪器网   管理登陆

TEL:13333855670

扫码加微信