产品中心/ products

您的位置:首页  -  产品中心  -  实验室常用设备  -  实验天平  -  METTLER梅特勒分析天平XP2U

METTLER梅特勒分析天平XP2U

  • 产品型号:
  • 更新时间:2024-04-15

简要描述:参数名称极限值参数名称典型值称量值2

产品详情

参数名称    极限值参数名称   典型值
称量值  

  2.1 g

典型重复性(sd)   0.00015 mg+2.5 x (10–8)· R_gr
可读性  

  1μg

典型微分非线性(sd)   √8x(10-14) · g · R_nt
重复性(sd) - 加载处   0.00025 mg典型微分四角误差(sd)   8 x (10–7) . R_nt
- 低加载(加载处)   0.0002 mg (0.2 g)典型灵敏度偏移(sd)2)     3x(10-6)· R_nt
线性误差    0.001mg典型最小称量值*(符合USP)   0.45 mg+7.5 x (10–5) · R_gr
四角误差(加载处)1)     0.0025 mg (1 g)典型最小称量值* (@ U=1 %, 2 sd)     0.03 mg+5 x (10–6) · R_gr
灵敏度漂移 

  1.5 x 10-5

典型稳定时间     < 10 s
灵敏度温度漂移 2)  

  0.0001 %/°C

1) 根据OIML R76
2) 在10到30°C的温度范围内
3) 次安装,使用proFACT校准,灵敏度稳定性
4) 能用于估计不确定度 sd=标准偏差 Rgr=毛重 Rnt=净重(样品质量) a=年
* 重复性和最小称量值可以通过以下措施得以改进:- 选择适当的称量参数设置,- 选择合适的天平放置位置,- 使用较小的去皮容器。
灵敏度稳定性 3)  

  0.0001 %/a

在线咨询

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
公司简介  >  在线留言  >  联系我们  >  
产品中心
实验室常用设备

CONTACT

办公地址:郑州市二七区航海中路106号院7号楼18层1819号

TEL:0371-60999551

EMAIL:weichuangjiance@126.com
扫码加微信
版权所有©2024 郑州伟创检测设备有限公司 All Rights Reserved   备案号:豫ICP备13004288号-2   sitemap.xml技术支持:化工仪器网   管理登陆

TEL:13333855670

扫码加微信